サブ0.1ミクロン薄膜SOI CMOS LSIデバイスの揺らぎに関する研究

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Material Type: 図書
Title: サブ0.1ミクロン薄膜SOI CMOS LSIデバイスの揺らぎに関する研究
Title Transcription: サブ 0.1 ミクロンハクマク SOI CMOS LSI デバイスノユラギニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 平本, 俊郎, 東京大学
Author Heading: 平本, 俊郎ヒラモト, トシロウ
Publication Date: 1995-1997
Publication Date (W3CDTF): 1995
Extent: 冊
Additional Title: 研究種目試験研究(B)
Subject Heading: 薄膜SOI MOSFET ハクマクSOIMOSFET
特性ばらつきトクセイバラツキ
しきい値電圧シキイチデンアツ
サブ0.1ミクロンMOSFET サブ0.1ミクロンMOSFET
完全空乏型SOI MOSFET カンゼンクウボウガタSOIMOSFET
不純物数の統計的揺らぎフジユンモノカズノトウケイテキユラギ
VLSIデバイス VLSIデバイス
NDLC: Y151
Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 07555109
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H07555109
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000007004650
http://id.ndl.go.jp/bib/000007004650
Bibliographic Record Category (NDL): 214