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陽電子の消減と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定

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陽電子の消減と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定

国立国会図書館請求記号
Y151-H09450005
国立国会図書館書誌ID
000007018257
資料種別
図書
著者
谷川, 庄一郎, 筑波大学
出版者
-
出版年
1997-1998
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
ヨウデンシ ノ ショウゲン ト カクサン トクセイ ノ ドウジ ソクテイ ニ ヨル Si,Ge チュウ ノ ネツ ヘイコウ ケッカン ノウド ノ セイミツ ケッテイ
著者・編者
谷川, 庄一郎, 筑波大学
著者標目
谷川, 庄一郎 タニガワ, ショウイチロウ
出版年月日等
1997-1998
出版年(W3CDTF)
1997
数量
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(B)
件名標目
シリコン シリコン
ゲルマニウム ゲルマニウム
熱平衡欠陥 ネツヘイコウケツカン
陽電子消減 ヨウデンシシヨウゲン
陽電子の拡散 ヨウデンシノカクサン
FZシリコン FZシリコン