陽電子の消減と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定

• Material Type: 図書
• Title: 陽電子の消減と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定
• Title Transcription: ヨウデンシ ノ ショウゲン ト カクサン トクセイ ノ ドウジ ソクテイ ニ ヨル Si,Ge チュウ ノ ネツ ヘイコウ ケッカン ノウド ノ セイミツ ケッテイ
• Author/Editor: 谷川, 庄一郎, 筑波大学
• Author Heading: 谷川, 庄一郎 タニガワ, ショウイチロウ
• Publication Date: 1997-1998
• Publication Date (W3CDTF): 1997
• Extent: 冊
• Additional Title: 研究種目 基盤研究(B)
• Subject Heading: シリコン シリコン; ゲルマニウム ゲルマニウム; 熱平衡欠陥 ネツヘイコウケツカン; 陽電子消減 ヨウデンシシヨウゲン; 陽電子の拡散 ヨウデンシノカクサン; FZシリコン FZシリコン
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 09450005
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-H09450005
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007018257; http://id.ndl.go.jp/bib/000007018257
• Bibliographic Record Category (NDL): 214