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UMS技術によるエレクトロニクス材料表面の超高精度特性解析・評価法

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UMS技術によるエレクトロニクス材料表面の超高精度特性解析・評価法

国立国会図書館請求記号
Y151-H09450120
国立国会図書館書誌ID
000007055933
資料種別
図書
著者
櫛引, 淳一, 東北大学
出版者
-
出版年
1997-1999
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
UMS ギジュツ ニ ヨル エレクトロニクス ザイリョウ ヒョウメン ノ チョウコウセイド トクセイ カイセキ ・ ヒョウカホウ
著者・編者
櫛引, 淳一, 東北大学
著者標目
櫛引, 淳一 クシビキ, ジュンイチ
出版年月日等
1997-1999
出版年(W3CDTF)
1997
数量
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(B)
件名標目
超音波マイクロスペクトロスコピー チヨウオンパマイクロスペクトロスコピー
LFB超音波顕微鏡 LFBチヨウオンパケンビキヨウ
V (z) 曲線解析法 V (Z) キヨクセンカイセキホウ
漏洩弾性表面波 ロウエイダンセイヒヨウメンハ
半導体材料評価 ハンドウタイザイリヨウヒヨウカ
デバイス作製プロセス評価 デバイスサクセイプロセスヒヨウカ
層状構造試料 ソウジヨウコウゾウシリヨウ
音響的均一性 オンキヨウテキキンイツセイ