ケルビンプローブフオース顕微鏡を用いたデバイス内部の電位分布測定技術の研究

• 資料種別: 図書
• タイトル: ケルビンプローブフオース顕微鏡を用いたデバイス内部の電位分布測定技術の研究
• タイトルよみ: ケルビンプローブフオース ケンビキョウ オ モチイタ デバイス ナイブ ノ デンイ ブンプ ソクテイ ギジュツ ノ ケンキュウ
• 著者・編者: 水谷, 孝, 名古屋大学
• 著者標目: 水谷, 孝 ミズタニ, タカシ
• 出版年月日等: 1998-1999
• 出版年（W3CDTF）: 1998
• 数量: 冊
• その他のタイトル: 研究種目 基盤研究(B)
• 件名標目: AFM酸化 AFMサンカ; KFM KFM; 単電子トンネル タンデンシトンネル; サフアイア基板 サフアイアキバン; InAsドツト INASドツト
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 10450135
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H10450135
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007058799; http://id.ndl.go.jp/bib/000007058799
• 整理区分コード: 214