ケルビンプローブフオース顕微鏡を用いたデバイス内部の電位分布測定技術の研究

• Material Type: 図書
• Title: ケルビンプローブフオース顕微鏡を用いたデバイス内部の電位分布測定技術の研究
• Title Transcription: ケルビンプローブフオース ケンビキョウ オ モチイタ デバイス ナイブ ノ デンイ ブンプ ソクテイ ギジュツ ノ ケンキュウ
• Author/Editor: 水谷, 孝, 名古屋大学
• Author Heading: 水谷, 孝 ミズタニ, タカシ
• Publication Date: 1998-1999
• Publication Date (W3CDTF): 1998
• Extent: 冊
• Additional Title: 研究種目 基盤研究(B)
• Subject Heading: AFM酸化 AFMサンカ; KFM KFM; 単電子トンネル タンデンシトンネル; サフアイア基板 サフアイアキバン; InAsドツト INASドツト
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 10450135
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-H10450135
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007058799; http://id.ndl.go.jp/bib/000007058799
• Bibliographic Record Category (NDL): 214