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陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定

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陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定

国立国会図書館請求記号
Y151-H10650650
国立国会図書館書誌ID
000007064208
資料種別
図書
著者
福島, 博, 広島大学
出版者
-
出版年
1998-1999
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
ヨウデンシ ジュミョウ ソクテイ ト トウカ デンシ ケンビキョウ ニ ヨル ゴク ビショウテン ケッカン シュウゴウタイ ノ コウゾウ ト カタ ノ ハンテイ
著者・編者
福島, 博, 広島大学
著者標目
福島, 博 フクシマ, ヒロシ
出版年月日等
1998-1999
出版年(W3CDTF)
1998
数量
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(C)
件名標目
陽電子消滅法 ヨウデンシシヨウメツホウ
透過型電子顕微鏡法 トウカガタデンシケンビキヨウホウ
格子欠陥 コウシケツカン
点欠陥集合体 テンケツカンシユウゴウタイ
照射損傷 シヨウシヤソンシヨウ
低温照射 テイオンシヨウシヤ