陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定

• Material Type: 図書
• Title: 陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定
• Title Transcription: ヨウデンシ ジュミョウ ソクテイ ト トウカ デンシ ケンビキョウ ニ ヨル ゴク ビショウテン ケッカン シュウゴウタイ ノ コウゾウ ト カタ ノ ハンテイ
• Author/Editor: 福島, 博, 広島大学
• Author Heading: 福島, 博 フクシマ, ヒロシ
• Publication Date: 1998-1999
• Publication Date (W3CDTF): 1998
• Extent: 冊
• Additional Title: 研究種目 基盤研究(C)
• Subject Heading: 陽電子消滅法 ヨウデンシシヨウメツホウ; 透過型電子顕微鏡法 トウカガタデンシケンビキヨウホウ; 格子欠陥 コウシケツカン; 点欠陥集合体 テンケツカンシユウゴウタイ; 照射損傷 シヨウシヤソンシヨウ; 低温照射 テイオンシヨウシヤ
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 10650650
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-H10650650
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007064208; http://id.ndl.go.jp/bib/000007064208
• Bibliographic Record Category (NDL): 214