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陽電子ビ-ムによるイオンビ-ム照射下欠陥解析法の開発

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陽電子ビ-ムによるイオンビ-ム照射下欠陥解析法の開発

国立国会図書館請求記号
Y151-H13480141
国立国会図書館書誌ID
000007087991
資料種別
図書
著者
伊藤, 泰男, 東京大学
出版者
-
出版年
2001-2002
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
ヨウデンシ ビ-ム ニ ヨル イオンビ-ム ショウシャ カ ケッカン カイセキホウ ノ カイハツ
著者・編者
伊藤, 泰男, 東京大学
著者標目
著者 : 伊藤, 泰男, 1942- イトウ, ヤスオ, 1942- ( 00151019 )典拠
出版年月日等
2001-2002
出版年(W3CDTF)
2001
数量
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(B)
件名標目
低速陽電子ビ-ム テイソクヨウデンシビ-ム
短パルス化 タンパルスカ
照射損傷 シヨウシヤソンシヨウ
バンチング バンチング
チヨツピング チヨツピング