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陽電子ビ-ムによるイオンビ-ム照射下欠陥解析法の開発

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陽電子ビ-ムによるイオンビ-ム照射下欠陥解析法の開発

Call No. (NDL)
Y151-H13480141
Bibliographic ID of National Diet Library
000007087991
Material type
図書
Author
伊藤, 泰男, 東京大学
Publisher
-
Publication date
2001-2002
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
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Notes on use

Note (General):

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
図書
Title Transcription
ヨウデンシ ビ-ム ニ ヨル イオンビ-ム ショウシャ カ ケッカン カイセキホウ ノ カイハツ
Author/Editor
伊藤, 泰男, 東京大学
Author Heading
著者 : 伊藤, 泰男, 1942- イトウ, ヤスオ, 1942- ( 00151019 )Authorities
Publication Date
2001-2002
Publication Date (W3CDTF)
2001
Extent
Additional Title
研究種目 基盤研究(B)
Subject Heading
低速陽電子ビ-ム テイソクヨウデンシビ-ム
短パルス化 タンパルスカ
照射損傷 シヨウシヤソンシヨウ
バンチング バンチング
チヨツピング チヨツピング