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高温比熱測定による溶融半導体の構造変化と構造変化誘起濃度揺らぎの研究

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高温比熱測定による溶融半導体の構造変化と構造変化誘起濃度揺らぎの研究

国立国会図書館請求記号
Y151-H13650715
国立国会図書館書誌ID
000007089506
資料種別
図書
著者
土屋, 良海, 新潟大学
出版者
-
出版年
2001-2002
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記：

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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紙

資料種別
図書
タイトル
高温比熱測定による溶融半導体の構造変化と構造変化誘起濃度揺らぎの研究
タイトルよみ
コウオン ヒネツ ソクテイ ニ ヨル ヨウユウ ハンドウタイ ノ コウゾウ ヘンカ ト コウゾウ ヘンカ ユウキ ノウド ユラギ ノ ケンキュウ
著者・編者
土屋, 良海, 新潟大学
著者標目
土屋, 良海 ツチヤ, ヨシミ
出版年月日等
2001-2002
出版年（W3CDTF）
2001
数量
冊
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(C)
件名標目
液体半導体 エキタイハンドウタイ
構造変化 コウゾウヘンカ
比熱 ヒネツ
Ge-Te GE-TE
濃度揺らぎ ノウドユラギ