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高温比熱測定による溶融半導体の構造変化と構造変化誘起濃度揺らぎの研究

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高温比熱測定による溶融半導体の構造変化と構造変化誘起濃度揺らぎの研究

Call No. (NDL)
Y151-H13650715
Bibliographic ID of National Diet Library
000007089506
Material type
図書
Author
土屋, 良海, 新潟大学
Publisher
-
Publication date
2001-2002
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
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Notes on use

Note (General):

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
図書
Title Transcription
コウオン ヒネツ ソクテイ ニ ヨル ヨウユウ ハンドウタイ ノ コウゾウ ヘンカ ト コウゾウ ヘンカ ユウキ ノウド ユラギ ノ ケンキュウ
Author/Editor
土屋, 良海, 新潟大学
Author Heading
土屋, 良海 ツチヤ, ヨシミ
Publication Date
2001-2002
Publication Date (W3CDTF)
2001
Extent
Additional Title
研究種目 基盤研究(C)
Subject Heading
液体半導体 エキタイハンドウタイ
構造変化 コウゾウヘンカ
比熱 ヒネツ
Ge-Te GE-TE
濃度揺らぎ ノウドユラギ