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RCJ信頼性シンポジウム発表論文集 第13回(2003)

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RCJ信頼性シンポジウム発表論文集. 第13回(2003)

国立国会図書館請求記号
ND354-H20
国立国会図書館書誌ID
000007406747
資料種別
図書
著者
日本電子部品信頼性センター
出版者
日本電子部品信頼性センター
出版年
2003.11
資料形態
ページ数・大きさ等
302, 82p ; 30cm
NDC
549.04
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資料に関する注記

一般注記:

会期・会場: 2003年11月6日-7日 大田区産業プラザ

資料詳細

内容細目:

第13回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム鉛フリーはんだ接続における錫ホイスカ問題 / 川中龍介 著ウィスカ成長メカニズムとその信頼性評価理論 / 坂本一三 著...

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目次

  • 目次

  • 第13回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム

  • 開催日:2003年11月6日(木)10:00〜16:45

  • 会場:4階コンベンションホール(A会場)

  • セッション名:鉛フリーはんだ接続信頼性 (1)

    司会 久保陽一(RCJ 専務理事)

書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
RCJ シンライセイ シンポジウム ハッピョウ ロンブンシュウ
巻次・部編番号
第13回(2003)
著者標目
日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )典拠
出版年月日等
2003.11
出版年(W3CDTF)
2003
数量
302, 82p
大きさ
30cm