RCJ信頼性シンポジウム発表論文集. 第13回(2003)

• Material Type: 図書
• Title: RCJ信頼性シンポジウム発表論文集
• Title Transcription: RCJ シンライセイ シンポジウム ハッピョウ ロンブンシュウ
• Volume: 第13回(2003)
• Author Heading: 日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日本電子部品信頼性センター
• Publication Date: 2003.11
• Publication Date (W3CDTF): 2003
• Extent: 302, 82p
• Size: 30cm
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: 電子部品--論文集 デンシブヒン ロンブンシュウ ( 00962742 )Authorities; 半導体--論文集 ハンドウタイ ロンブンシュウ ( 00839632 )Authorities
• NDC 9th ed.: 549.04 : Electronic engineering
• NDLC: ND354; ND371
• Target Audience: 一般
• Note (General): 会期・会場: 2003年11月6日-7日 大田区産業プラザ
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: ND354-H20
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007406747; http://id.ndl.go.jp/bib/000007406747
• National Bibliography No. (JPNO): 20632024
• Cataloging Rule: Nippon Cataloguing Rules 1987 Revised Edition
• Bibliographic Record Category (NDL): 111

• Contents: 第13回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム鉛フリーはんだ接続における錫ホイスカ問題 / 川中龍介 著ウィスカ成長メカニズムとその信頼性評価理論 / 坂本一三 著...

Table of Contents

目次

第13回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム

開催日：2003年11月6日（木）10:00〜16:45

会場：4階コンベンションホール（A会場）

セッション名：鉛フリーはんだ接続信頼性 (1)