Twentieth annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : March 9-11, 2004 : Fairmont Hotel : San Jose, CA USA. : SEMI-THERM 20 : Mar 2004, San Jose, CA.

国立国会図書館請求記号: M17-04-3486
国立国会図書館書誌ID: 000007543739

資料種別: 図書

著者: IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (20th : 2004 : San Jose, Calif.)

出版者: IEEE

出版年: c2004.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xiii, 313 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.IEEE cat no 04CH37545 (softbound) , 04CH37545C (CD-ROM) .

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 078038363X (softbound ed.)
0780383648 (CD-ROM ed.)
ISSN: 1065-2221
タイトル: Twentieth annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : March 9-11, 2004 : Fairmont Hotel : San Jose, CA USA. : SEMI-THERM 20 : Mar 2004, San Jose, CA.
著者標目: IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (20th : 2004 : San Jose, Calif.)
出版事項: Piscataway : IEEE
出版年月日等: c2004.
出版年（W3CDTF）: 2004
数量: xiii, 313 p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: 20th annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : March 9-11, 2004 : Fairmont Hotel : San Jose, CA USA
Twentieth annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : proceedings 2004 : San Jose, CA USA : March 9-11, 2004 : sessions: system-level thermal (...)
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Semiconductors -- Thermal properties -- Congresses.
Semiconductors -- Cooling -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
IEEE cat no 04CH37545 (softbound) , 04CH37545C (CD-ROM) .
書誌注記: Includes bibliographic references.
別の媒体に関する注記: Also available via the World Wide Web.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-04-3486
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000007543739
http://id.ndl.go.jp/bib/000007543739
RLIN番号: MOHG54797571-B
整理区分コード: 215