22nd IEEE VLSI test symposium : proceedings : 25-29 April 2004 : Napa Valley, California. : VTS 2004 : Apr 2004, Napa Valley, CA. (IEEE VLSI Test Symposium)

22nd IEEE VLSI test symposium : proceedings : 25-29 April 2004 : Napa Valley, California. : VTS 2004 : Apr 2004, Napa Valley, CA.

(IEEE VLSI Test Symposium)

国立国会図書館請求記号: M17-05-433
国立国会図書館書誌ID: 000007624842

資料種別: 図書

著者: IEEE VLSI Test Symposium (22nd : 2004 : Napa Valley, California)

出版者: IEEE Computer Society

出版年: c2004.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xxvii, 406 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.IEEE cat no PR2134 (t. p. verso) , P2134 (back cover) .

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0769521347
ISSN（シリーズ）: 1093-0167
タイトル: 22nd IEEE VLSI test symposium : proceedings : 25-29 April 2004 : Napa Valley, California. : VTS 2004 : Apr 2004, Napa Valley, CA.
シリーズタイトル: IEEE VLSI Test Symposium
著者標目: IEEE VLSI Test Symposium (22nd : 2004 : Napa Valley, California)
出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
出版年月日等: c2004.
出版年（W3CDTF）: 2004
数量: xxvii, 406 p. : ill. ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing. -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
IEEE cat no PR2134 (t. p. verso) , P2134 (back cover) .
書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-05-433
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000007624842
http://id.ndl.go.jp/bib/000007624842
RLIN番号: MOHG55109961-B
整理区分コード: 215