Super Impose法を用いた製造プロセスを考慮した電子デバイスの信頼性評価

• 資料種別: 図書
• タイトル: Super Impose法を用いた製造プロセスを考慮した電子デバイスの信頼性評価
• タイトルよみ: Super Imposeホウ オ モチイタ セイゾウ プロセス オ コウリョシタ デンシ デバイス ノ シンライセイ ヒョウカ
• 著者・編者: 座古勝, 大阪大学 [著]
• 著者標目: 座古, 勝 ザコ, マサル; 大阪大学 オオサカ ダイガク
• 出版事項: [座古勝]
• 出版年月日等: 2002-2003; 2004.3
• 出版年（W3CDTF）: 2002; 2003
• 数量: 106p
• その他のタイトル: 研究種目 基盤研究(B)
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: Super Impose法 / マルチスケール解析 / 電子デバイス / 熱問題 / 損傷進展挙動 / 製造プロセス Super Impose ホウ / マルチスケール カイセキ / デンシ デバイス / ネツ モンダイ / ソンショウ シンテン キョドウ / セイゾウ プロセス
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 14350057
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H14350057
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007629535; http://id.ndl.go.jp/bib/000007629535
• 整理区分コード: 214