Super Impose法を用いた製造プロセスを考慮した電子デバイスの信頼性評価

• Material Type: 図書
• Title: Super Impose法を用いた製造プロセスを考慮した電子デバイスの信頼性評価
• Title Transcription: Super Imposeホウ オ モチイタ セイゾウ プロセス オ コウリョシタ デンシ デバイス ノ シンライセイ ヒョウカ
• Author/Editor: 座古勝, 大阪大学 [著]
• Author Heading: 座古, 勝 ザコ, マサル; 大阪大学 オオサカ ダイガク
• Publication, Distribution, etc.: [座古勝]
• Publication Date: 2002-2003; 2004.3
• Publication Date (W3CDTF): 2002; 2003
• Extent: 106p
• Additional Title: 研究種目 基盤研究(B)
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: Super Impose法 / マルチスケール解析 / 電子デバイス / 熱問題 / 損傷進展挙動 / 製造プロセス Super Impose ホウ / マルチスケール カイセキ / デンシ デバイス / ネツ モンダイ / ソンショウ シンテン キョドウ / セイゾウ プロセス
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 14350057
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-H14350057
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007629535; http://id.ndl.go.jp/bib/000007629535
• Bibliographic Record Category (NDL): 214