回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集
• タイトルよみ: カイロ ト システム カルイザワ ワークショップ ロンブンシュウ
• 巻次・部編番号: 20 20070400
• 著者標目: 電子情報通信学会 デンシ ジョウホウ ツウシン ガッカイ ( 00258121 )典拠
• 出版事項: [東京] : [電子情報通信学会]
• 出版年月日等: 2007
• 出版年（W3CDTF）: 2007
• 刊行巻次・年月次: [ ]-21回 (2008年4月21/22日)
• 大きさ: 26cm
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn; eng
• NDLC: ZN33
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; 主催: 電子情報通信学会
• 総目次・総索引注記: 総目次・総索引あり
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z74-E560
• 関連情報: 関連資料; https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000002-I000010660027
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007783658; http://id.ndl.go.jp/bib/000007783658
• 全国書誌番号: 01009214
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 131

目次

デバイスモデリング (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集)

先端MOSFET技術におけるHiSIM2基板電流モデル (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集 ; デバイスモデリング)

短距離ブロック内配線の自己発熱 (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集 ; デバイスモデリング)

信頼性保証のためのNBTIのモデリングとシミュレーション方法 (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集 ; デバイスモデリング)

ダミーフィルがオンチップ配線の高周波特性に与える影響の解析的評価手法 (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集 ; デバイスモデリング)