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2004 IEEE international workshop on current & defect based testing (DBT 2004) : proceedings : April 25, 2004 : Napa Valley Marriott, Napa Valley, CA, USA. : DBT-2004 : Apr 2004, Napa Valley, CA.

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2004 IEEE international workshop on current & defect based testing (DBT 2004) : proceedings : April 25, 2004 : Napa Valley Marriott, Napa Valley, CA, USA. : DBT-2004 : Apr 2004, Napa Valley, CA.

国立国会図書館請求記号
M17-05-2561
国立国会図書館書誌ID
000007999194
資料種別
図書
著者
Menon, Sankaran M.ほか
出版者
IEEE
出版年
c2004.
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
ix, 112, [1] p. : ill. ; 28 cm.
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記：

An abstract and papers.Held in conjunction with the VLSI test symposium (VTS2004) .IEEE cat no 04EX1004.

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書誌情報

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紙

資料種別
図書
ISBN
0780389506
タイトル
2004 IEEE international workshop on current & defect based testing (DBT 2004) : proceedings : April 25, 2004 : Napa Valley Marriott, Napa Valley, CA, USA. : DBT-2004 : Apr 2004, Napa Valley, CA.
著者標目
Menon, Sankaran M.
IEEE International Workshop on Defect Based Testing (2004 : Napa, Calif.)
IEEE VLSI Test Symposium (2004 : Napa, Calif.)
出版事項
Piscataway : IEEE
出版年月日等
c2004.
出版年（W3CDTF）
2004
数量
ix, 112, [1] p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等
2004 IEEE international workshop on current and defect based testing (DBT 2004) : proceedings : April 25, 2004 : Napa Valley Marriott, Napa Valley, CA, USA
2004 IEEE international workshop on defect based testing (DBT)
出版地（国名コード）
US