Low cost test methodologies for system-on-chip design using test data compression and built-in self-test

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Low cost test methodologies for system-on-chip design using test data compression and built-in self-test
• 著者・編者: Youhua Shi [著]
• 著者標目: 史, 又華 シ, ヨウカ
• 出版事項: [Youhua Shi]
• 出版年月日等: 2005
• 出版年（W3CDTF）: 2005
• 数量: 1冊
• 並列タイトル等: テストデータ圧縮およびチップ組込みテスト手法を用いたシステムオンチップ設計に対する低コストテスト手法の研究 テスト データ アッシュク オヨビ チップ クミコミ テスト シュホウ オ モチイタ システム オンチップ セッケイ ニ タイスル テイコスト テスト シュホウ ノ ケンキュウ
• 授与機関名: 早稲田大学
• 授与年月日: 平成17年3月15日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2005
• 報告番号: 甲第2034号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• 著者別名: Shi, Youhua
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文; 背のタイトル: Low cost test methodologies for SoC design
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2005-P104
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000008075107; http://id.ndl.go.jp/bib/000008075107
• 整理区分コード: 213