Low cost test methodologies for system-on-chip design using test data compression and built-in self-test

• Material Type: 博士論文
• Title: Low cost test methodologies for system-on-chip design using test data compression and built-in self-test
• Author/Editor: Youhua Shi [著]
• Author Heading: 史, 又華 シ, ヨウカ
• Publication, Distribution, etc.: [Youhua Shi]
• Publication Date: 2005
• Publication Date (W3CDTF): 2005
• Extent: 1冊
• Alternative Title: テストデータ圧縮およびチップ組込みテスト手法を用いたシステムオンチップ設計に対する低コストテスト手法の研究 テスト データ アッシュク オヨビ チップ クミコミ テスト シュホウ オ モチイタ システム オンチップ セッケイ ニ タイスル テイコスト テスト シュホウ ノ ケンキュウ
• Degree grantor/type: 早稲田大学
• Date Granted: 平成17年3月15日
• Date Granted (W3CDTF): 2005
• Dissertation Number: 甲第2034号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• Alias of Author: Shi, Youhua
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文; 背のタイトル: Low cost test methodologies for SoC design
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2005-P104
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000008075107; http://id.ndl.go.jp/bib/000008075107
• Bibliographic Record Category (NDL): 213