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Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshops : SSPR 2006 and SPR 2006 : Hong Kong, China, August 17-19, 2006 : proceedings. (Lecture Notes in Computer Science ; 4109)

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Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshops : SSPR 2006 and SPR 2006 : Hong Kong, China, August 17-19, 2006 : proceedings.

(Lecture Notes in Computer Science ; 4109)

国立国会図書館請求記号
M17-06-3016
国立国会図書館書誌ID
000008367027
資料種別
図書
著者
International Association for Pattern Recognition. Technical Committee 1.ほか
出版者
Springer
出版年
c2006.
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
xxi, 939 p. : ill. ; 24 cm.
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記：

Papers." (...) , which was the fifth time that the SPR and SSPR workshops organized by (...) were held together as joint workshops." -- pref.

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紙

資料種別
図書
ISBN
3540372369 (pbk.)
9783540372363 (ISBN-13)
ISSN（シリーズ）
0302-9743
タイトル
Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshops : SSPR 2006 and SPR 2006 : Hong Kong, China, August 17-19, 2006 : proceedings.
シリーズタイトル
Lecture Notes in Computer Science ; 4109
著者標目
International Association for Pattern Recognition. Technical Committee 1.
Yeung, Dit-Yan, 1960-
International Association for Pattern Recognition. Technical Committee 2.
International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition (11th : 2006 : Hong Kong, China)
International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition (6th : 2006 : Hong Kong, China)
出版事項
Berlin : Springer
New York : Springer
出版年月日等
c2006.
出版年（W3CDTF）
2006
数量
xxi, 939 p. : ill. ; 24 cm.