GaN系半導体ヘテロ構造における表面界面の原子レベル評価と物性制御

• 資料種別: 図書
• タイトル: GaN系半導体ヘテロ構造における表面界面の原子レベル評価と物性制御
• タイトルよみ: GaNケイ ハンドウタイ ヘテロ コウゾウ ニ オケル ヒョウメン カイメン ノ ゲンシ レベル ヒョウカ ト ブッセイ セイギョ
• 著者・編者: 櫻井利夫, 東北大学 [著]
• 著者標目: 櫻井, 利夫 サクライ, トシオ; 東北大学 トウホク ダイガク
• 出版事項: [櫻井利夫]
• 出版年月日等: 2002-2005; 2006.5
• 出版年（W3CDTF）: 2002; 2005
• 数量: 67p
• その他のタイトル: 研究種目 基盤研究(S)
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn; eng
• 件名標目: III-V族半導体 / 分子線エピタキシー (MBE) / 走査トンネル顕微鏡 (STM) / 高速電子線回折 (RHEED) / 表面再構成 / 薄膜 / ワイドバンドギャップ / ハロゲンエッチング III-Vゾク ハンドウタイ / ブンシセン エピタキシー (MBE) / ソウサ トンネル ケンビキョウ (STM) / コウソク デンシセン カイセツ (RHEED) / ヒョウメン サイコウセイ / ハクマク / ワイドバンドギャップ / ハロゲンエッチング
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 14102010
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H14102010
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000008386069; http://id.ndl.go.jp/bib/000008386069
• 整理区分コード: 214