GaN系半導体ヘテロ構造における表面界面の原子レベル評価と物性制御

Call No. (NDL): Y151-H14102010
Bibliographic ID of National Diet Library: 000008386069

Material type: 図書

Author: 櫻井利夫, 東北大学 [著]

Publisher: [櫻井利夫]

Publication date: 2002-2005

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 67p

NDC: -

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Note (General)：: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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Paper

Material Type: 図書
Title: GaN系半導体ヘテロ構造における表面界面の原子レベル評価と物性制御
Title Transcription: GaNケイハンドウタイヘテロコウゾウニオケルヒョウメンカイメンノゲンシレベルヒョウカトブッセイセイギョ
Author/Editor: 櫻井利夫, 東北大学 [著]
Author Heading: 櫻井, 利夫サクライ, トシオ
東北大学トウホクダイガク
Publication, Distribution, etc.: [櫻井利夫]
Publication Date: 2002-2005
2006.5
Publication Date (W3CDTF): 2002
2005
Extent: 67p
Additional Title: 研究種目基盤研究(S)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
eng
Subject Heading: III-V族半導体 / 分子線エピタキシー (MBE) / 走査トンネル顕微鏡 (STM) / 高速電子線回折 (RHEED) / 表面再構成 / 薄膜 / ワイドバンドギャップ / ハロゲンエッチング III-Vゾクハンドウタイ / ブンシセンエピタキシー (MBE) / ソウサトンネルケンビキョウ (STM) / コウソクデンシセンカイセツ (RHEED) / ヒョウメンサイコウセイ / ハクマク / ワイドバンドギャップ / ハロゲンエッチング
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 14102010
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H14102010
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000008386069
http://id.ndl.go.jp/bib/000008386069
Bibliographic Record Category (NDL): 214