Recent development of electron microscopy : proceedings of the Second Chinese-Japanese Electron Microscopy Seminar held in Beijing from October 17 to October 19 in 1983

• 資料種別: 図書
• ISBN: 4-930813-11-5
• タイトル: Recent development of electron microscopy : proceedings of the Second Chinese-Japanese Electron Microscopy Seminar held in Beijing from October 17 to October 19 in 1983
• 著者・編者: organized by Chinese Society of Electron Microscopy; edited by H. Hashimoto [et al.]
• 著者標目: Chinese Electron Microscopy Society ( 00744891 )典拠; 橋本, 初次郎, 1921- ハシモト, ハツジロウ, 1921- ( 00156643 )典拠
• 出版事項: 東京 : 日本学会事務センター
• 出版年月日等: 1985.9
• 出版年（W3CDTF）: 1985
• 数量: 279 p.
• 大きさ: 23 cm
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• NDLC: M18
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: Includes bibliographical references
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M18-B675
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000008526785; http://id.ndl.go.jp/bib/000008526785
• 全国書誌番号: 21225434
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 113

目次

CONTENTS

Characteristics of 200-400kV high resolution electron microscopy and atom images from thick crystals/ 1

High resolution electron microscopic studies at the institute of metal research, Academia Sinica/ 19

Electron microscopic observation of frozen cells/ 27

UHV-HR-1 MV electron microscope and its application to materials science/ 35