博士論文

二次イオン質量分析(SIMS)を用いたH[+]プロファイリングによる黒曜石水和層の研究

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二次イオン質量分析(SIMS)を用いたH[+]プロファイリングによる黒曜石水和層の研究

国立国会図書館請求記号
UT51-2007-E977
国立国会図書館書誌ID
000008557124
資料種別
博士論文
著者
渡辺圭太 [著]
出版者
[渡辺圭太]
出版年
[2007]
資料形態
ページ数・大きさ等
3冊 (副論文・参考論文とも)
授与大学名・学位
立教大学,博士 (理学)
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資料種別
博士論文
タイトルよみ
ニジ イオン シツリョウ ブンセキ SIMS オ モチイタ H+ プロファイリング ニ ヨル コクヨウセキ スイワソウ ノ ケンキュウ
著者・編者
渡辺圭太 [著]
著者標目
渡辺, 圭太 ワタナベ, ケイタ
出版事項
出版年月日等
[2007]
出版年(W3CDTF)
2007
数量
3冊 (副論文・参考論文とも)
並列タイトル等
Study on obsidian hydration layer using SIMS H[+] profiling