二次イオン質量分析(SIMS)を用いたH[+]プロファイリングによる黒曜石水和層の研究

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Material Type: 博士論文
Title: 二次イオン質量分析(SIMS)を用いたH[+]プロファイリングによる黒曜石水和層の研究
Title Transcription: ニジイオンシツリョウブンセキ SIMS オモチイタ H+ プロファイリングニヨルコクヨウセキスイワソウノケンキュウ
Author/Editor: 渡辺圭太 [著]
Author Heading: 渡辺, 圭太ワタナベ, ケイタ
Publication, Distribution, etc.: [渡辺圭太]
Publication Date: [2007]
Publication Date (W3CDTF): 2007
Extent: 3冊 (副論文・参考論文とも)
Alternative Title: Study on obsidian hydration layer using SIMS H[+] profiling
Degree grantor/type: 立教大学
Date Granted: 平成19年3月31日
Date Granted (W3CDTF): 2007
Dissertation Number: 甲第193号
Degree Type: 博士 (理学)
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: UT51
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-2007-E977
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000008557124
http://id.ndl.go.jp/bib/000008557124
Bibliographic Record Category (NDL): 213