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書誌情報
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- 資料種別
- 図書
- ISBN
- 1424401674
- 出版年月日等
- c2006.
- 出版年(W3CDTF)
- 2006
- 数量
- x, 230, 3 p. : ill. ; 28 cm.
- 並列タイトル等
- 2006 IEEE international conference on microelectronics test structures : Austin, TX : 6-9 March 2006
- 出版地(国名コード)
- US