Hot-carrier effects in MOS devices / Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0126822409 (acid-free paper); 9780126822403 (acid-free paper)
• タイトル: Hot-carrier effects in MOS devices / Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada.
• 著者標目: 武田, 英次, 1949- タケダ, エイジ, 1949- ( 00176889 )典拠; Yang, C. Y.-W. (Cary Y.-W.) , 1948-; Miura-Hamada, Akemi.
• 出版事項: San Diego : Academic Press
• 出版年月日等: c1995.
• 出版年（W3CDTF）: 1995
• 数量: xii, 312 p. : ill. ; 24 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Metal oxide semiconductors.; Hot carriers.; Semiconductors -- Quantum theory.
• LCC: TK7871.99.M44
• DDC: 537.6/225
• NDLC: ND371
• 一般注記: Related URL: Publisher description http: //www.loc.gov/catdir/description/els032/95030713.html.; Related URL: Table of contents http: //www.loc.gov/catdir/toc/els032/95030713.html.
• 書誌注記: Includes bibliographical references (p. 187-301) and index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND371-B26
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009113793; http://id.ndl.go.jp/bib/000009113793
• LC control number: 95030713; https://lccn.loc.gov/95030713
• OCLC番号: 32738829; https://www.worldcat.org/oclc/32738829
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 211