図書

Advances in metrology for x-ray and EUV optics 2 : 30 August 2007 : San Diego, California, USA. : Aug 2007, San Diego, CA. (SPIE Proceedings ; 6704)

図書を表すアイコン

Advances in metrology for x-ray and EUV optics 2 : 30 August 2007 : San Diego, California, USA. : Aug 2007, San Diego, CA.

(SPIE Proceedings ; 6704)

国立国会図書館請求記号
M17-08-306
国立国会図書館書誌ID
000009215256
資料種別
図書
著者
Assoufid, Lahsen.ほか
出版者
SPIE
出版年
c2007.
資料形態
ページ数・大きさ等
1 v. (various pagings) : ill. (some col.) ; 28 cm.
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

Papers.

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
ISBN
9780819468529
ISSN(シリーズ)
0277-786X
シリーズタイトル
出版事項
出版年月日等
c2007.
出版年(W3CDTF)
2007