Advances in metrology for x-ray and EUV optics 2 : 30 August 2007 : San Diego, California, USA. : Aug 2007, San Diego, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9780819468529
• ISSN（シリーズ）: 0277-786X
• タイトル: Advances in metrology for x-ray and EUV optics 2 : 30 August 2007 : San Diego, California, USA. : Aug 2007, San Diego, CA.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 6704
• タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 6704.
• 著者標目: Assoufid, Lahsen.; Takacs, Peter Z.; Ohtsuka, Masaru.
• 出版事項: Bellingham : SPIE
• 出版年月日等: c2007.
• 出版年（W3CDTF）: 2007
• 数量: 1 v. (various pagings) : ill. (some col.) ; 28 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Optical measurements -- Congresses.; Optical instruments -- Design and construction -- Congresses.; Measuring instruments -- Design and construction -- Congresses.; Laser interferometers -- Congresses.; Measurement -- Congresses.
• LCC: QC367
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-08-306
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009215256; http://id.ndl.go.jp/bib/000009215256
• OCLC番号: 182860020; https://www.worldcat.org/oclc/182860020
• 整理区分コード: 215