ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd international symposium for testing and failure analysis : November 4-8, 2007 : San Jose McEnery Convention Center : San Jose, California, USA. : Nov 2007, San Jose, CA.

ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd international symposium for testing and failure analysis : November 4-8, 2007 : San Jose McEnery Convention Center : San Jose, California, USA. : Nov 2007, San Jose, CA.

国立国会図書館請求記号: M17-08-251
国立国会図書館書誌ID: 000009218322

資料種別: 図書

著者: International Symposium for Testing and Failure Analysis (33rd : 2007 : San Jose, Calif.)

出版者: ASM International

出版年: c2007.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xvi, 356 p. : ill. : 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.

付属資料：: With a CD-ROM.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0871708639
9780871708632 (ISBN-13)
タイトル: ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd international symposium for testing and failure analysis : November 4-8, 2007 : San Jose McEnery Convention Center : San Jose, California, USA. : Nov 2007, San Jose, CA.
著者標目: International Symposium for Testing and Failure Analysis (33rd : 2007 : San Jose, Calif.)
出版事項: Materials Park : ASM International
出版年月日等: c2007.
出版年（W3CDTF）: 2007
数量: xvi, 356 p. : ill. : 28 cm.
付属資料: With a CD-ROM.
並列タイトル等: ISTFA 2007 : November 4-8, 2007 : conference proceedings from the 33rd international symposium for testing and failure analysis
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Electronics -- Materials -- Testing -- Congresses.
Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-08-251
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000009218322
http://id.ndl.go.jp/bib/000009218322
OCLC番号: 182765356
https://www.worldcat.org/oclc/182765356
整理区分コード: 215