本文へ移動
図書

高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究

図書を表すアイコン

高精度密度測定による半導体融体の局所構造変化と濃度揺らぎの研究

国立国会図書館請求記号
Y151-H16560577
国立国会図書館書誌ID
000009288979
資料種別
図書
著者
土屋良海, 新潟大学 [著]
出版者
[土屋良海]
出版年
2004-2006
資料形態
ページ数・大きさ等
2, 50p
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
タイトルよみ
コウセイド ミツド ソクテイ ニ ヨル ハンドウタイ ユウタイ ノ キョクショ コウゾウ ヘンカ ト ノウド ユラギ ノ ケンキュウ
著者・編者
土屋良海, 新潟大学 [著]
著者標目
土屋, 良海 ツチヤ, ヨシミ
新潟大学 ニイガタ ダイガク
出版事項
出版年月日等
2004-2006
2007.3
出版年(W3CDTF)
2004
2006
数量
2, 50p
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(C)