収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用

• 資料種別: 図書
• タイトル: 収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用
• タイトルよみ: シュウソク デンシ カイセツホウ ニ ヨル ナノスケール テンケッカン カイセキホウ ノ カイハツ ト テンケッカン ユウキ ブッセイ エ ノ オウヨウ
• 著者・編者: 津田健治, 東北大学 [著]
• 著者標目: 津田, 健治, 1964- ツダ, ケンジ, 1964- ( 00617140 )典拠; 東北大学 トウホク ダイガク ( 00305371 )典拠
• 出版事項: [津田健治]
• 出版年月日等: 2005-2006; 2007.5
• 出版年（W3CDTF）: 2005; 2006
• 数量: 1冊
• その他のタイトル: 研究種目 基盤研究(C)
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn; eng
• 件名標目: 電子顕微鏡 / ナノ材料 / 格子欠陥 / 物性実験 デンシ ケンビキョウ / ナノ ザイリョウ / コウシ ケッカン / ブッセイ ジッケン
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 17510083
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H17510083
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009350150; http://id.ndl.go.jp/bib/000009350150
• 整理区分コード: 214