収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用

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Material Type: 図書
Title: 収束電子回折法によるナノスケール点欠陥解析法の開発と点欠陥誘起物性への応用
Title Transcription: シュウソクデンシカイセツホウニヨルナノスケールテンケッカンカイセキホウノカイハツトテンケッカンユウキブッセイエノオウヨウ
Author/Editor: 津田健治, 東北大学 [著]
Author Heading: 津田, 健治, 1964- ツダ, ケンジ, 1964- ( 00617140 )Authorities
東北大学トウホクダイガク ( 00305371 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: [津田健治]
Publication Date: 2005-2006
2007.5
Publication Date (W3CDTF): 2005
2006
Extent: 1冊
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
eng
Subject Heading: 電子顕微鏡 / ナノ材料 / 格子欠陥 / 物性実験デンシケンビキョウ / ナノザイリョウ / コウシケッカン / ブッセイジッケン
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17510083
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H17510083
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009350150
http://id.ndl.go.jp/bib/000009350150
Bibliographic Record Category (NDL): 214