Gate stack scaling: materials, role of interfaces and reliability implications : April 17-21, 2006 : San Francisco, California, USA. (Materials Research Society Symposia Proceedings ; 917)

Gate stack scaling: materials, role of interfaces and reliability implications : April 17-21, 2006 : San Francisco, California, USA.

(Materials Research Society Symposia Proceedings ; 917)

国立国会図書館請求記号: M17-08-1533
国立国会図書館書誌ID: 000009413495

資料種別: 図書

著者: Materials Research Society. Meeting (2006 : San Francisco, Calif.)

出版者: Materials Research Society

出版年: c2006.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 192 p. : ill. ; 24 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers."Spring 2006" -- on cover.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9781558998742
タイトル: Gate stack scaling: materials, role of interfaces and reliability implications : April 17-21, 2006 : San Francisco, California, USA.
シリーズタイトル: Materials Research Society Symposia Proceedings ; 917
タイトル標目: Materials Research Society symposia proceedings ; v. 917.
著者標目: Materials Research Society. Meeting (2006 : San Francisco, Calif.)
出版事項: Warrendale : Materials Research Society
出版年月日等: c2006.
出版年（W3CDTF）: 2006
数量: 192 p. : ill. ; 24 cm.
その他のタイトル: Apr 2006, San Francisco, CA.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Integrated circuits -- Ultra large scale integration -- Materials -- Congresses.
Metal oxide semiconductors, Complementary -- Congresses.
Metal oxide semiconductor field-effect transistors -- Congresses.
Gate array circuits -- Congresses.
Dielectrics -- Congresses.
Electric leakage -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
"Spring 2006" -- on cover.
書誌注記: Includes bibliographical references.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-08-1533
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000009413495
http://id.ndl.go.jp/bib/000009413495
OCLC番号: 150548103
https://www.worldcat.org/oclc/150548103
整理区分コード: 215