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半導体デバイスの放射線照射損傷における高温照射効果

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半導体デバイスの放射線照射損傷における高温照射効果

国立国会図書館請求記号
Y151-H17560602
国立国会図書館書誌ID
000009443111
資料種別
図書
著者
工藤友裕, 熊本電波工業高等専門学校 [著]
出版者
[工藤友裕]
出版年
2005-2007
資料形態
ページ数・大きさ等
39p
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
ハンドウタイ デバイス ノ ホウシャセン ショウシャ ソンショウ ニ オケル コウオン ショウシャ コウカ
著者・編者
工藤友裕, 熊本電波工業高等専門学校 [著]
著者標目
工藤, 友裕 クドウ, トモヒロ
熊本電波工業高等専門学校 クマモト デンパ コウギョウ コウトウ センモン ガッコウ
出版事項
出版年月日等
2005-2007
2008.3
出版年(W3CDTF)
2005
2007
数量
39p
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(C)