半導体デバイスの放射線照射損傷における高温照射効果

• Material Type: 図書
• Title: 半導体デバイスの放射線照射損傷における高温照射効果
• Title Transcription: ハンドウタイ デバイス ノ ホウシャセン ショウシャ ソンショウ ニ オケル コウオン ショウシャ コウカ
• Author/Editor: 工藤友裕, 熊本電波工業高等専門学校 [著]
• Author Heading: 工藤, 友裕 クドウ, トモヒロ; 熊本電波工業高等専門学校 クマモト デンパ コウギョウ コウトウ センモン ガッコウ
• Publication, Distribution, etc.: [工藤友裕]
• Publication Date: 2005-2007; 2008.3
• Publication Date (W3CDTF): 2005; 2007
• Extent: 39p
• Additional Title: 研究種目 基盤研究(C)
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn; eng
• Subject Heading: 陽子線 / 電子線 / 照射損傷 / 高温照射 / SiGe / SiC ヨウシセン / デンシセン / ショウシャ ソンショウ / コウオン ショウシャ / SiGe / SiC
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17560602
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-H17560602
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000009443111; http://id.ndl.go.jp/bib/000009443111
• Bibliographic Record Category (NDL): 214