半導体デバイスの放射線照射損傷における高温照射効果

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Material Type: 図書
Title: 半導体デバイスの放射線照射損傷における高温照射効果
Title Transcription: ハンドウタイデバイスノホウシャセンショウシャソンショウニオケルコウオンショウシャコウカ
Author/Editor: 工藤友裕, 熊本電波工業高等専門学校 [著]
Author Heading: 工藤, 友裕クドウ, トモヒロ
熊本電波工業高等専門学校クマモトデンパコウギョウコウトウセンモンガッコウ
Publication, Distribution, etc.: [工藤友裕]
Publication Date: 2005-2007
2008.3
Publication Date (W3CDTF): 2005
2007
Extent: 39p
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
eng
Subject Heading: 陽子線 / 電子線 / 照射損傷 / 高温照射 / SiGe / SiC ヨウシセン / デンシセン / ショウシャソンショウ / コウオンショウシャ / SiGe / SiC
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17560602
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H17560602
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009443111
http://id.ndl.go.jp/bib/000009443111
Bibliographic Record Category (NDL): 214