走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定

• 資料種別: 図書
• タイトル: 走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定
• タイトルよみ: ソウサ プローブ ケンビキョウ ニ ヨル ヒョウメン ポテンシャル ブンプ ノ コウセイド ソクテイ
• 著者・編者: 長谷川幸雄, 東京大学 [著]
• 著者標目: 長谷川, 幸雄 ハセガワ, ユキオ; 東京大学 トウキョウ ダイガク
• 出版事項: [長谷川幸雄]
• 出版年月日等: 2005-2006; 2008.6
• 出版年（W3CDTF）: 2005; 2006
• 数量: 9, 69p
• その他のタイトル: 研究種目 基盤研究(B)
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 走査プローブ顕微鏡 / 表面・界面物性 / 超精密計測 / 静電ポテンシャル / ナノコンタクト ソウサ プローブ ケンビキョウ / ヒョウメン ・ カイメン ブッセイ / チョウセイミツ ケイソク / セイデンポテンシャル / ナノコンタクト
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 17360018
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H17360018
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009443982; http://id.ndl.go.jp/bib/000009443982
• 整理区分コード: 214