走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定

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Material Type: 図書
Title: 走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定
Title Transcription: ソウサプローブケンビキョウニヨルヒョウメンポテンシャルブンプノコウセイドソクテイ
Author/Editor: 長谷川幸雄, 東京大学 [著]
Author Heading: 長谷川, 幸雄ハセガワ, ユキオ
東京大学トウキョウダイガク
Publication, Distribution, etc.: [長谷川幸雄]
Publication Date: 2005-2006
2008.6
Publication Date (W3CDTF): 2005
2006
Extent: 9, 69p
Additional Title: 研究種目基盤研究(B)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 走査プローブ顕微鏡 / 表面・界面物性 / 超精密計測 / 静電ポテンシャル / ナノコンタクトソウサプローブケンビキョウ / ヒョウメン・カイメンブッセイ / チョウセイミツケイソク / セイデンポテンシャル / ナノコンタクト
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17360018
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H17360018
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009443982
http://id.ndl.go.jp/bib/000009443982
Bibliographic Record Category (NDL): 214