図書

配線損傷の高精度予測に立脚した電子デバイス長寿命化のための回路設計指針の新規策定

図書を表すアイコン

配線損傷の高精度予測に立脚した電子デバイス長寿命化のための回路設計指針の新規策定

国立国会図書館請求記号
Y151-H17360045
国立国会図書館書誌ID
000009492518
資料種別
図書
著者
笹川和彦, 弘前大学 [著]
出版者
[笹川和彦]
出版年
2005-2007
資料形態
ページ数・大きさ等
10, 48p
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
タイトルよみ
ハイセン ソンショウ ノ コウセイド ヨソク ニ リッキャクシタ デンシ デバイス チョウジュミョウカ ノ タメノ カイロ セッケイ シシン ノ シンキ サクテイ
著者・編者
笹川和彦, 弘前大学 [著]
著者標目
笹川, 和彦 ササガワ, カズヒコ
弘前大学 ヒロサキ ダイガク
出版事項
出版年月日等
2005-2007
2008.3
出版年(W3CDTF)
2005
2007
数量
10, 48p
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(B)