配線損傷の高精度予測に立脚した電子デバイス長寿命化のための回路設計指針の新規策定

Call No. (NDL): Y151-H17360045
Bibliographic ID of National Diet Library: 000009492518

Material type: 図書

Author: 笹川和彦, 弘前大学 [著]

Publisher: [笹川和彦]

Publication date: 2005-2007

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 10, 48p

NDC: -

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Note (General)：: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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Material Type: 図書
Title: 配線損傷の高精度予測に立脚した電子デバイス長寿命化のための回路設計指針の新規策定
Title Transcription: ハイセンソンショウノコウセイドヨソクニリッキャクシタデンシデバイスチョウジュミョウカノタメノカイロセッケイシシンノシンキサクテイ
Author/Editor: 笹川和彦, 弘前大学 [著]
Author Heading: 笹川, 和彦ササガワ, カズヒコ
弘前大学ヒロサキダイガク
Publication, Distribution, etc.: [笹川和彦]
Publication Date: 2005-2007
2008.3
Publication Date (W3CDTF): 2005
2007
Extent: 10, 48p
Additional Title: 研究種目基盤研究(B)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: エレクトロマイグレーション / 半導体集積回路 / 長寿命化 / 微細化 / 高密度実装 / 電子パッケージ / 金属薄膜配線 / 数値シミュレーションエレクトロマイグレーション / ハンドウタイシュウセキカイロ / チョウジュミョウカ / ビサイカ / コウミツドジッソウ / デンシパッケージ / キンゾクハクマクハイセン / スウチシミュレーション
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17360045
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H17360045
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009492518
http://id.ndl.go.jp/bib/000009492518
Bibliographic Record Category (NDL): 214