Twenty-third annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA : March 20-22, 2007. : 23rd semiconductor thermal measurement, modeling, and management symposium : SEMI-THERM conference : SEMI-THERM 23 : ST23 : Mar 2007, San Jose, CA.

Twenty-third annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA : March 20-22, 2007. : 23rd semiconductor thermal measurement, modeling, and management symposium : SEMI-THERM conference : SEMI-THERM 23 : ST23 : Mar 2007, San Jose, CA.

国立国会図書館請求記号: M17-08-2292
国立国会図書館書誌ID: 000009557289

資料種別: 図書

著者: -

出版者: IEEE

出版年: c2007.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: ix, 261, 2 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

すべて見る

資料に関する注記

一般注記：: Papers.IEEE cat no 07CH37872 (softbound ed.) , 07CH37872C (CD-ROM ed.) .

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

紙

資料種別: 図書
ISBN: 1424409586
ISBN（エラーコード）: 424409586
424409594
ISSN: 1065-2221
タイトル: Twenty-third annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA : March 20-22, 2007. : 23rd semiconductor thermal measurement, modeling, and management symposium : SEMI-THERM conference : SEMI-THERM 23 : ST23 : Mar 2007, San Jose, CA.
出版事項: Piscataway : IEEE
出版年月日等: c2007.
出版年（W3CDTF）: 2007
数量: ix, 261, 2 p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: 23rd annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA : March 20-22, 2007
出版地（国名コード）: US
NDLC: M17
一般注記: Papers.
IEEE cat no 07CH37872 (softbound ed.) , 07CH37872C (CD-ROM ed.) .
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-08-2292
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000009557289
http://id.ndl.go.jp/bib/000009557289
整理区分コード: 215