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金属・半導体材料表面薄膜の化学的評価法の開発と表面分析用薄膜標準物質作製への展開

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金属・半導体材料表面薄膜の化学的評価法の開発と表面分析用薄膜標準物質作製への展開

国立国会図書館請求記号
Y151-H17550086
国立国会図書館書誌ID
000009608387
資料種別
図書
著者
田中龍彦, 東京理科大学 [著]
出版者
[田中龍彦]
出版年
2005-2007
資料形態
ページ数・大きさ等
1冊
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
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タイトルよみ
キンゾク ハンドウタイ ザイリョウ ヒョウメン ハクマク ノ カガクテキ ヒョウカホウ ノ カイハツ ト ヒョウメン ブンセキヨウ ハクマク ヒョウジュン ブッシツ サクセイ エノ テンカイ
著者・編者
田中龍彦, 東京理科大学 [著]
著者標目
田中, 龍彦 タナカ, タツヒコ ( 01157228 )典拠
東京理科大学 トウキョウ リカ ダイガク ( 00305981 )典拠
出版事項
出版年月日等
2005-2007
2008.5
出版年(W3CDTF)
2005
2007
数量
1冊
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(C)