Proceedings of 2008 international conference on condition monitoring and diagnosis : Beijing, China April 21-24, 2008. : CMD2008 : Apr 2008, Beijing, China.

著者: Hua bei dian li da xue. Beijing Area Major Laboratory of High Voltage and EMC.

資料に関する注記

一般注記：: Papers."CMD 2008 is the second biennial conference (...) " -- forward.IEEE cat no CFP0830D-PRT.

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資料種別: 図書
ISBN（セット）: 9781424416219 (set)
タイトル: Proceedings of 2008 international conference on condition monitoring and diagnosis : Beijing, China April 21-24, 2008. : CMD2008 : Apr 2008, Beijing, China.
著者標目: Hua bei dian li da xue. Beijing Area Major Laboratory of High Voltage and EMC.
出版事項: Piscataway : IEEE
出版年月日等: [c2008]
出版年（W3CDTF）: 2008
数量: 2 v. : ill. ; 30 cm.
並列タイトル等: CMD 2008
出版地（国名コード）: US
NDLC: M17
一般注記: Papers.
"CMD 2008 is the second biennial conference (...) " -- forward.
IEEE cat no CFP0830D-PRT.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-08-2268
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000009720245
http://id.ndl.go.jp/bib/000009720245
整理区分コード: 215