Siの空乏層における歪効果と不活性水素のホットキャリアによる解離効果の研究

• 資料種別: 図書
• タイトル: Siの空乏層における歪効果と不活性水素のホットキャリアによる解離効果の研究
• タイトルよみ: Si ノ クウボウソウ ニ オケル ヒズミ コウカ ト フカッセイ スイソ ノ ホット キャリア ニ ヨル カイリ コウカ ノ ケンキュウ
• 著者・編者: 松田和典, 徳島文理大学 [著]
• 著者標目: 松田, 和典, 1957- マツダ, カズノリ, 1957- ( 00720929 )典拠; 徳島文理大学 トクシマ ブンリ ダイガク ( 00396062 )典拠
• 出版事項: [松田和典]
• 出版年月日等: 2004-2007; 2008.6
• 出版年（W3CDTF）: 2004; 2007
• 数量: 1冊
• その他のタイトル: 研究種目 基盤研究(C); Siの空乏層における歪効果と不活性水素のホットキャリアによる乖離効果の研究
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: シリコンデバイス / 歪効果 / ピエゾキャパシタンス効果 / ピエゾ抵抗効果 / 状態密度 シリコンデバイス / ワイ コウカ / ピエゾキャパシタンス コウカ / ピエゾ テイコウ コウカ / ジョウタイ ミツド
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 16510099
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H16510099
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009816650; http://id.ndl.go.jp/bib/000009816650
• 整理区分コード: 214