Siの空乏層における歪効果と不活性水素のホットキャリアによる解離効果の研究

Call No. (NDL): Y151-H16510099
Bibliographic ID of National Diet Library: 000009816650

Material type: 図書

Author: 松田和典, 徳島文理大学 [著]

Publisher: [松田和典]

Publication date: 2004-2007

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 1冊

NDC: -

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Note (General)：: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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Material Type: 図書
Title: Siの空乏層における歪効果と不活性水素のホットキャリアによる解離効果の研究
Title Transcription: Si ノクウボウソウニオケルヒズミコウカトフカッセイスイソノホットキャリアニヨルカイリコウカノケンキュウ
Author/Editor: 松田和典, 徳島文理大学 [著]
Author Heading: 松田, 和典, 1957- マツダ, カズノリ, 1957- ( 00720929 )Authorities
徳島文理大学トクシマブンリダイガク ( 00396062 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: [松田和典]
Publication Date: 2004-2007
2008.6
Publication Date (W3CDTF): 2004
2007
Extent: 1冊
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Siの空乏層における歪効果と不活性水素のホットキャリアによる乖離効果の研究
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: シリコンデバイス / 歪効果 / ピエゾキャパシタンス効果 / ピエゾ抵抗効果 / 状態密度シリコンデバイス / ワイコウカ / ピエゾキャパシタンスコウカ / ピエゾテイコウコウカ / ジョウタイミツド
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 16510099
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H16510099
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009816650
http://id.ndl.go.jp/bib/000009816650
Bibliographic Record Category (NDL): 214