ETS 2008 : thirteenth IEEE European test symposium : proceedings : 25-29 May 2008 : Verbania, Italy. : TTTC-sponsored technical meetings : May 2008, Verbania, Italy.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9780769531502
• ISSN: 1530-1877
• タイトル: ETS 2008 : thirteenth IEEE European test symposium : proceedings : 25-29 May 2008 : Verbania, Italy. : TTTC-sponsored technical meetings : May 2008, Verbania, Italy.
• 著者標目: IEEE European Test Symposium (13th : 2008 : Verbania, Italy)
• 出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
• 出版年月日等: c2008.
• 出版年（W3CDTF）: 2008
• 数量: xvii, 205 p. : ill. ; 28 cm.
• 並列タイトル等: ETS 2008 : 13th IEEE European test symposium : proceedings : 25-29 May 2008 : Verbania, Italy; 13th European test symposium : (ETS 2008) : 25-29 May 2008 : Verbania, Italy
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Integrated circuits -- Testing -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Abstracts and selected papers.; IEEE cat no P3150 (t.p. verso) , CFP08216-PRT (cover) .
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-09-727
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009978166; http://id.ndl.go.jp/bib/000009978166
• OCLC番号: 259749980; https://www.worldcat.org/oclc/259749980
• 整理区分コード: 215