Studies on power, thermal & false-path aware test techniques for modern system-on-chips

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Studies on power, thermal & false-path aware test techniques for modern system-on-chips
• 著者・編者: Thomas Edison Chua Yu [著]
• 著者標目: Yu Thomas Edison Chua ユー トーマス エディソン チュア
• 出版事項: [Thomas Edison Chua Yu]
• 出版年月日等: [2009]
• 出版年（W3CDTF）: 2009
• 数量: 1冊
• 並列タイトル等: 電力、温度およびフォールスパスを考慮したシステムオンチップのテスト技術に関する研究 デンリョク オンド オヨビ フォールスパス オ コウリョシタ システム オンチップ ノ テスト ギジュツ ニ カンスル ケンキュウ
• 授与機関名: 奈良先端科学技術大学院大学
• 授与年月日: 平成21年3月24日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2009
• 報告番号: 甲第812号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2009-H670
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000010549590; http://id.ndl.go.jp/bib/000010549590
• 整理区分コード: 213