Studies on power, thermal & false-path aware test techniques for modern system-on-chips

• Material Type: 博士論文
• Title: Studies on power, thermal & false-path aware test techniques for modern system-on-chips
• Author/Editor: Thomas Edison Chua Yu [著]
• Author Heading: Yu Thomas Edison Chua ユー トーマス エディソン チュア
• Publication, Distribution, etc.: [Thomas Edison Chua Yu]
• Publication Date: [2009]
• Publication Date (W3CDTF): 2009
• Extent: 1冊
• Alternative Title: 電力、温度およびフォールスパスを考慮したシステムオンチップのテスト技術に関する研究 デンリョク オンド オヨビ フォールスパス オ コウリョシタ システム オンチップ ノ テスト ギジュツ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 奈良先端科学技術大学院大学
• Date Granted: 平成21年3月24日
• Date Granted (W3CDTF): 2009
• Dissertation Number: 甲第812号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2009-H670
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000010549590; http://id.ndl.go.jp/bib/000010549590
• Bibliographic Record Category (NDL): 213